IT2800源表納安(nA) 級低功測試優(yōu)化方案

IT2800源表納安(A) 級低功測試優(yōu)化方案

隨著微電子技術的迅速發(fā)展和設計水平的提高，芯片的集成度和運算數據量顯著增大.這導致芯片的功耗急劇增加。因此，芯片需要進行低功耗設計與測試。同樣的生活中的部分電子產品，如 IOT 設備、便攜式電池供電產品等，為了保證較長時間工作狀態(tài)，也必須進行低功耗測試。

低功耗測試的特點

靜態(tài)電流越來越低，uA休眠電流，甚至nA-級漏電流

信號復雜，動態(tài)電流變化范圍大，微安 (uA) 休眠電流到幾百 mA甚至幾A的發(fā)射

電流

電流脈沖寬度窄，一般在幾百微秒至毫秒級

需要高采樣速率和長時間的連續(xù)測量

低功耗測試方案

傳統(tǒng)方案一、高性能電源+數宇萬用表

這主要是因為低功耗測試往往動態(tài)特性快，需要電源精度高，響應速度快，另外電源本身的回讀速度較慢，為避免漏掉電流突變，常需要配合數字萬用表來進行數據采集。

傳統(tǒng)方案二、電源分析儀+高精度電源/源表

用電源分析儀對數據進行分析記錄代替數字萬用表功能，兩者價格十分高昂，有時還需要配合收費軟件完成測試