一、產品概述

ATP3034系列是奧譜天成在光譜分析技術領域的又一力作，代表了光纖光譜儀高分辨率發展的新成就。該系列產品以其卓1越的4096像素探測能力，成功實現了從紫外到近紅外波段（180-1100nm）的寬譜段覆蓋，為精密光譜分析樹立了新的技術標1桿。

這款光譜儀的核心突破在于其像素密度。相較于傳統的2048像素探測器，ATP3034采用的4096像素探測器將采樣點數提升了一倍，這使得其在全波段范圍內都能獲得更加細膩、精確的光譜數據。這一特性特別適用于需要分辨極其接近光譜特征的嚴苛應用場景，為科研和工業檢測提供了前所未1有的分辨能力。

在光學設計方面，研發團隊對光路結構、電路系統和信號處理方法進行了全1方位的深度優化。通過精密的交叉C-T光路設計，結合先1進的光學模擬與優化算法，確保了光線在傳輸過程中的最小損耗和最1優成像質量。同時，專門開發的低噪聲讀出電路和創新的信號處理算法，共同實現了超低噪聲的卓1越性能，使儀器在保持高靈敏度的同時，能夠有效抑制各類干擾信號。

該系列中的ATP3011P型號更是采用了TE深度制冷技術，將探測器溫度穩定控制在精確的設定值。這種主動溫控設計不僅顯著降低了探測器的暗電流噪聲，更大幅提升了系統的信噪比和動態范圍。值得一提的是，ATP3011P僅需單一的5V直流電源供電，通過USB2.0或UART接口進行數據傳輸，這種簡潔的供電和通信方案極大地便利了系統的集成與應用。

為了滿足不同用戶的需求，該系列提供了完整的型號配置：

• ATP3000：2048像素探測器，非制冷版本

• ATP3040：4096像素探測器，非制冷版本

• ATP3011P：4096像素探測器，TE深度制冷版本

二、技術特征

ATP3034 4096像素超高分辨率光纖光譜儀系列在技術參數上表現卓1越，其主要特征包括：

• 探測系統：配備4096像素的高靈敏度探測器，配合先1進的制冷技術，確保在長時間曝光下仍能保持極低的噪聲水平

• 分辨率性能：憑借高密度像素和優化的光路設計，可實現0.01nm的分辨率，能夠清晰分辨極其細微的光譜特征

• 靈敏度表現：高達650V/(lx·s)的靈敏度指標，使其能夠有效檢測微弱光信號

• 光譜范圍：覆蓋180-1100nm的寬譜段，從深紫外延伸至近紅外區域

• 讀出性能：讀出速率達10MHz，確保數據采集的高速性

• 光學結構：采用精密的交叉C-T光路設計，在緊湊的空間內實現優異的光學性能

• 操作參數：積分時間范圍從1ms到65535ms，提供充分的調節空間以適應不同亮度條件的測量需求

• 供電設計：采用DC 5V±10%，電流<2A的供電方案，兼顧了性能與能效的平衡

• 接口配置：支持SMA905光纖接口和自由空間光輸入，數據輸出提供USB2.0高速接口和UART兩種選擇

三、應用領域

憑借其超高分辨率和優異的信噪比表現，ATP3034系列在多個精密測量領域展現出獨特的價值：

在分析化學領域，該系列是構建微量、快速分光光度計的核心部件，能夠對微量樣品進行快速、準確的光譜分析。在基礎科學研究中，它為光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析提供了強有力的工具，幫助研究人員獲取更加精細的光譜信息。

在材料表征方面，ATP3034系列能夠精確完成透過率、吸光度檢測，為材料光學特性的研究提供可靠數據。同時，在反射率檢測應用中，其高分辨率特性能夠準確捕捉材料表面光學特性的細微變化。

在光源特性分析領域，該系列適用于波長檢測，涵蓋紫外、可見和短波近紅外波段，為激光器、LED等光源的波長特性分析提供精確測量。此外，在橢偏儀系統中，ATP3034的高分辨率和低噪聲特性為薄膜厚度和光學常數的精確測定提供了有力保障。

ATP3034系列4096像素超高分辨率光纖光譜儀的成功研制，不僅體現了奧譜天成在光譜技術領域的深厚積累，更為高1端科研和精密工業檢測提供了強有力的技術支撐，推動著光譜分析技術向著更高精度、更高靈敏度的方向不斷發展。